特許
J-GLOBAL ID：200903043466053488
拡散反射率測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
工業技術院電子技術総合研究所長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-357571
公開番号（公開出願番号）：特開平6-194223
出願日： 1992年12月24日
公開日（公表日）： 1994年07月15日
要約：
【要約】【構成】半球面状の台座1の底面2中央に入射光ビームを照射させる被測定試料3を配置すると共に、台座1には被測定試料3からの被測定散乱反射光bを受光するフォトダイオード4群を配置し、更に台座1の底面2にはフォトダイオード4群からの測定不要の反射光cを吸収する黒体物質5を配置した積分球を備えた拡散反射率測定装置。【効果】積分球内での測定不要の反射光cは全て黒体物質5に吸収され、被測定散乱反射光bのみがフォトダイオードに受光されるので、従来不可能であった被測定散乱反射光の散乱強度分布の監視とその積分強度の正しい測定ができる。
請求項（抜粋）：
半球面状の台座の低部中央に入射光ビームを照射させる被測定試料を配置すると共に、上記台座には上記被測定試料からの被測定散乱反射光を受光するフォトダイオード群を配置した積分球を備えたことを特徴とする拡散反射率測定装置。
IPC (2件)：
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