特許
J-GLOBAL ID：200903043482687136

イオントラップ型質量分析装置

発明者：
谷口 純一

谷口 純一 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-379683
公開番号（公開出願番号）：特開2002-184349
出願日： 2000年12月14日
公開日（公表日）： 2002年06月28日
要約：
【要約】【課題】 より多くのイオンをイオントラップに導入することにより、より感度の高い測定を行うことを可能としたイオントラップ型質量分析装置を提供する。【解決手段】 イオン供給源21とイオントラップ部22との間に:入口側ゲート電極24;クーリングガス、高周波電圧及び入口側から出口側にかけて傾斜を有する電場により出口側端部の方にイオンを集積して保持するイオン保持部23;及び出口側ゲート電極25を設ける。イオン保持部23の出口側端部にイオンを集積した時点で出口側ゲート電極25を開放し、イオンを一気にパルス状にイオントラップ部22に導入する。この時点で、イオントラップ部22のリング電極26にRF電圧を印加しないことにより、リング電極26の電圧による反発が無くなり、最大量のイオンがイオントラップ空間に導入される。
請求項（抜粋）：
イオン供給源とイオントラップ部との間に、a)クーリングガス、イオン閉じ込めを行うための高周波電場及び入口側から出口側にかけて傾斜を有する電場により出口側端部の方にイオンを集積して保持するイオン保持部と、b)イオン供給源とイオン保持部との間に設けた入口側ゲート電極と、c)イオン保持部とイオントラップ部との間に設けた出口側ゲート電極と、を備えたことを特徴とするイオントラップ型質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/72
FI (6件)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 L ,  G01N 27/62 C ,  G01N 27/62 X ,  G01N 30/72 A ,  G01N 30/72 C
Fターム (3件)：
5C038JJ02 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07
引用特許：
出願人引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM