特許
J-GLOBAL ID:200903043492685913

X線撮影方法および装置並びにX線CT装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井島 藤治 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-023839
公開番号(公開出願番号):特開平9-215687
出願日: 1996年02月09日
公開日(公表日): 1997年08月19日
要約:
【要約】【課題】 高精細で品質の良い透視像を撮影するX線撮影方法および装置並びにX線CT装置を実現する。【解決手段】 広がりに比べて厚みの薄いX線ビームをその厚みの方向に被検体に関して相対的に掃引し、透過X線に基づいて被検体の透視像を形成するX線撮影装置において、X線検出素子のアレイDTe1〜DTe4をX線ビームの厚みの方向に複数個隣接して透過X線を検出するX線検出手段DTと、X線検出手段における複数のX線検出素子のアレイの検出信号を重み付き加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成する画像形成手段COMとを具備することを特徴とする。
請求項(抜粋):
広がりに比べて厚みの薄いX線ビームをその厚みの方向に被検体に関して相対的に掃引し、透過X線に基づいて被検体の透視像を形成するX線撮影方法において、X線検出素子のアレイを前記X線ビームの厚みの方向に複数個隣接させたX線検出器によって前記透過X線を検出し、前記複数のX線検出素子のアレイの検出信号を重み付き加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成することを特徴とするX線撮影方法。
IPC (3件):
A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 350 ,  A61B 6/03 371
FI (3件):
A61B 6/03 320 Y ,  A61B 6/03 350 H ,  A61B 6/03 371
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭59-196677
  • X線CTスキャナー
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-350200   出願人:ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ

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