特許

J-GLOBAL ID：200903043509778988

質量分光測定のための湾曲導入

発明者： アンドリエン、 ブラス、 エー. ジュニア. ,  サンソン、 マイケル、 エー. ,  バート、 アラン、 ジー. ,  ホワイトハウス、 クレイグ、 エム.
出願人/特許権者： アナリティカ オブ ブランフォード インコーポレーテッド
代理人 (1件)： 金倉 喬二
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-516367
公開番号（公開出願番号）：特表2001-520438
出願日： 1998年10月15日
公開日（公表日）： 2001年10月30日
要約：

【要約】多重層湾曲エレクトロスプレー(ES)試料導入装置(25)は質量分析器にインターフェースされた大気圧イオン(API)供給源(1)に配置される。大気圧イオン(API)供給源(1)にて湾曲もしくは屈曲試料導入エレクトロスプレー(ES)プローブ(29)を介し導入された試料溶液(20)は、エレクトロスプレー(ES)プローブ本体(31)の中心線から異なる角度にてエレクトロスプレー(ES)プローブ先端部(12)より噴霧される。

請求項（抜粋）：

a. 少なくとも1個のエレクトロスプレー試料導入プローブを有するエレクトロスプレーイオン供給源を備え;b. 前記エレクトロスプレープローブは湾曲部分を備え;c. 前記湾曲部分は少なくとも1個の流体路を備え;さらにd. 前記湾曲エレクトロスプレープローブから噴霧された前記溶液よりイオンを発生させる手段を備えることを特徴とする溶液からのイオンの発生装置。

IPC (5件)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/26 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/04

FI (5件)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/26 Z ,  G01N 27/62 F ,  G01N 30/72 C ,  H01J 49/04

Fターム (3件)：

5C038EF07 ,  5C038GG08 ,  5C038GH03