特許
J-GLOBAL ID：200903043577774567
テストパターン発生装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田澤 博昭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-284069
公開番号（公開出願番号）：特開平5-100648
出願日： 1991年10月04日
公開日（公表日）： 1993年04月23日
要約：
【要約】【目的】 被試験ディスプレイモニタにテストパターンとテストパターンに関する種々のメッセージとを表示できるテストパターン発生装置を得る。【構成】 メモリ2に水平,垂直周波数等の番号,名称,試験方法等を示すフォントパターンを登録して置き、テストパターン信号源1の出力に応じてフォントパターンを選択して読み出し、シリアルデータに変換した後、切換回路7でテストパターン信号と切換えられてディスプレイモニタ10に加えられ表示される。【効果】 同一画面でテストパターンとメッセージが表示でき、作業効率が向上する。
請求項（抜粋）：
ディスプレイモニタの水平周波数、垂直周波数等の走査のタイミングに応じて各種テストパターン信号を発生するテストパターン信号源と、上記タイミングの番号,名称,テストパターン信号に関する種々のメッセージ等の内容を示すフォントパターンが登録されるメモリと、上記テストパターン信号源から出力すべきテストパターン信号及びそのタイミングを選択すると共に上記選択に応じて上記メモリから読み出すフォントパターンを選択しその読み出しを制御する制御手段と、上記テストパターン信号源から出力されたテストパターン信号と上記メモリから読み出されたフォントパターン信号とを切換える切換回路とを備えたテストパターン発生装置。
IPC (2件)：
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