特許
J-GLOBAL ID：200903043646343336
非破壊検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北村 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-181769
公開番号（公開出願番号）：特開平10-026608
出願日： 1996年07月11日
公開日（公表日）： 1998年01月27日
要約：
【要約】【課題】 非破壊検査方法において、検査対象物の帯磁に伴う磁場と比較し、検査対象物の疲労や、欠陥などによる磁場の変化が小さいため、疲労や欠陥が進んだ状態にならないと検出できなかった。【解決手段】 検査対象物1aと同じ材質、形状を有する基準サンプル1bを用意し、検査対象物1aの磁場の方向と基準サンプル1bの磁場の方向が反対になるように検査対象物1aと基準サンプル1bの帯磁と配置を行い、SQUIDなどの磁気センサを検査対象物1aよりの磁場と前記基準サンプル1bよりの磁場が相殺する領域に沿って検査対象物1aに対して相対的に移動させ、検査対象物1aの直流磁気の変化を測定する。
請求項（抜粋）：
検査対象物の磁場の方向と基準サンプルの磁場の方向が反対になるように前記検査対象物と前記基準サンプルの帯磁と配置を行い、磁気センサを前記検査対象物よりの磁場の一方向の要素と前記基準サンプルよりの磁場の前記一方向の要素とが相殺する領域に沿って前記検査対象物に対して相対的に移動させ、前記検査対象物の直流磁気の変化を測定する非破壊検査方法。
IPC (2件)：
G01N 27/82
, G01R 33/035 ZAA
G01N 27/82
, G01R 33/035 ZAA
