特許

J-GLOBAL ID：200903043662896280

ICテスタ診断装置及びICテスタ診断方法

発明者： 伊藤 章雄 ,  江藤 友明 ,  池野 宏 ,  和久井 徹 ,  池田 正志
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-140138
公開番号（公開出願番号）：特開2002-333470
出願日： 2001年05月10日
公開日（公表日）： 2002年11月22日
要約：

【要約】【課題】 短時間で、適切な診断ができるICテスタ診断装置及びICテスタ診断方法を実現することを目的にする。【解決手段】 本発明は、被試験対象を試験するICテスタの診断を行うICテスタ診断装置に改良を加えたものである。本装置は、ICテスタの構成部品の性質と故障発生頻度とによる区分と故障内容の詳細度による区分とにより分けられ、ICテスタの診断を行う複数の診断手段を設けたことを特徴とする装置である。

請求項（抜粋）：

被試験対象を試験するICテスタの診断を行うICテスタ診断装置において、前記ICテスタの構成部品の性質と故障発生頻度とによる区分と故障内容の詳細度による区分とにより分けられ、ICテスタの診断を行う複数の診断手段を設けたことを特徴とするICテスタ診断装置。

IPC (3件)：

G01R 35/00 ,  G01R 31/28 ,  G06F 11/22 320

FI (3件)：

G01R 35/00 L ,  G06F 11/22 320 C ,  G01R 31/28 Z

Fターム (10件)：

2G132AA18 ,  2G132AL38 ,  5B048AA22 ,  5B048AA23 ,  5B048BB00 ,  5B048CC02 ,  5B048DD05 ,  5B048EE01 ,  5B048EE07 ,  5B048FF02