特許

J-GLOBAL ID：200903043668040582

皮膚のキメ粗さの測定方法およびキメ粗さ評価用キット

発明者： 小竹 由紀 ,  本山 順子
出願人/特許権者： ライオン株式会社
代理人 (1件)： 藤本 英介 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-358037
公開番号（公開出願番号）：特開2001-170028
出願日： 1999年12月16日
公開日（公表日）： 2001年06月26日
要約：

【要約】【課題】 皮膚表面のキメ粗さレベルの客観的判定や、化粧品等によるキメ粗さの改善程度を、安価、簡便かつ定量的に数値で表現でき、専門知識を有しない一般ユーザーにも手軽に測定が可能で、その意味を理解しやすいキメ粗さの測定法を提供すること。【解決手段】 皮膚表面上で皮溝が3本以上会合する点を1交点とし、単位面積あたりの交点数を計測するか、または交点1個あたりの平均面積を計測することにより、皮膚のキメ粗さを測定および評価する方法並びにそのために用いるキット。

請求項（抜粋）：

皮膚表面上で皮溝が3本以上会合する点を1交点とし、単位面積あたりの交点数を計測するか、または交点1個あたりの平均面積を計測することにより、皮膚のキメ粗さを測定する方法。

IPC (2件)：

A61B 5/107 ,  G01N 33/50

FI (2件)：

G01N 33/50 Q ,  A61B 5/10 300 Q

Fターム (6件)：

2G045AA40 ,  2G045BB60 ,  2G045CB09 ,  4C038VA04 ,  4C038VB22 ,  4C038VC20