特許

J-GLOBAL ID：200903043672503856

超音波診断装置

発明者： 伊藤 嘉彦 ,  福喜多 博 ,  萩原 尚 ,  西垣 森雄
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-230609
公開番号（公開出願番号）：特開平9-075347
出願日： 1995年09月08日
公開日（公表日）： 1997年03月25日
要約：

【要約】【課題】 画像処理による断層面間の相互位置関係の検出を、わずかな計算量で行えるようにした三次元超音波診断装置を提供する。【解決手段】 互いに断層面が交差するように配置された超音波探触子14,15および角速度センサ23を用い、超音波探触子15による時間的に異なる断層情報と角速度センサ23による超音波探触子15の傾き情報を変位検出手段30により処理し、超音波探触子14の空間的位置を確定することで超音波探触子14による断層面間の相互位置関係を少ない演算利用で検出する。三次元フレームメモリ19,輪郭抽出回路20,三次元DSC21を利用することでモニタ22上に被検体のエコー情報を三次元画像として表示する。

請求項（抜粋）：

互いに断層面が交差する少なくとも二断層面を有する超音波探触子と、超音波探触子の傾きの変化を検出する1つ以上の角速度センサと、角速度センサの情報および超音波探触子の一方の断層面から得られた情報をもとに他方の断層面の空間的移動を検出する変位検出手段とを設けた超音波診断装置。

IPC (3件)：

A61B 8/14 ,  G01B 17/00 ,  G01N 29/06

FI (3件)：

A61B 8/14 ,  G01B 17/00 C ,  G01N 29/06

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 超音波診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-018541   出願人：松下電器産業株式会社
• 探触子及びこの探触子を用いた超音波診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-203706   出願人：株式会社日立メデイコ
• 特開昭63-046143
  
• 特開昭63-046143