特許

J-GLOBAL ID：200903043674837700

回路の検査装置と回路の検査方法

発明者： 吉野 功高
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 岡▲崎▼ 信太郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-096041
公開番号（公開出願番号）：特開平9-257881
出願日： 1996年03月26日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：

【要約】【課題】 液晶表示パネルのような対象物の回路の機能を簡単にかつ確実に検査することができる回路の検査装置を提供すること。【解決手段】 対象物4の回路の機能を検査する検査装置であり、対象物4を保持する保持手段30と、保持手段30により保持されている対象物4の回路の配線パターンに対して、設定しようとする電子部品に相当する検査作業専用の電子部品PA(PA1,PA2,PA3)を電気的に直接仮設定する電子部品仮設定手段40と、電子部品仮設定手段40により検査作業専用の電子部品PA(PA1,PA2,PA3)を仮設定後に、配線パターンの信号供給用の電極部61gに直接接触して、機能検査用の信号を供給するための信号供給手段60と、を備える。

請求項（抜粋）：

対象物の回路の機能を検査する検査装置において、対象物を保持する保持手段と、保持手段により保持されている対象物の回路の配線パターンに対して、設定しようとする電子部品に相当する検査作業専用の電子部品を電気的に直接仮設定する電子部品仮設定手段と、電子部品仮設定手段により検査作業専用の電子部品を仮設定後に、配線パターンの信号供給用の電極部に直接接触して、機能検査用の信号を供給するための信号供給手段と、を備えることを特徴とする回路の検査装置。

IPC (5件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/1345 ,  H05K 3/00

FI (5件)：

G01R 31/28 H ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/1345 ,  H05K 3/00 T