気相イオン分析計のためのプローブ

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：大塩竹志
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-615142
公開番号（公開出願番号）：特表2003-524772
出願日： 2000年04月27日
公開日（公表日）： 2003年08月19日
要約：

【要約】本発明は、気相イオン分光計中に取り外し可能に挿入可能なプローブおよびこのプローブの作製方法を提供し、このプローブは、表面およびこの表面上のヒドロゲル材料を有する基板を備え、このヒドロゲル材料は、気相イオン分光計で検出可能な分析物に結合するための結合官能基を含む。本発明はまた、気相イオン分光計中に取り外し可能に挿入可能なプローブおよびこのプローブの作製方法を提供し、このプローブは、表面およびこの表面上の実質的に均一な直径の複数の粒子を有する基板を備え、この粒子は、気相イオン分光計で検出可能な分析物に結合するための結合官能基を含む。さらに、本発明は、本発明のプローブ、および分析物を脱着するためにプローブ表面に光を指向するエネルギー源、ならびにプローブ表面に連絡した検出器を備える気相イオン分光計を備えるシステムを提供する。

請求項（抜粋）：

気相イオン分光計に取り外し可能に挿入可能なプローブであって、該プローブは、表面および該表面上にヒドロゲル材料を有する基板を備え、ここで、該ヒドロゲル材料が、架橋し、そして該気相イオン分光計によって検出可能な分析物に結合するための結合官能基を含む、プローブ。

IPC (5件)：

G01N 27/62 , C08F 20/10 , C08F 20/56 , G01N 1/28 , G01N 27/64

FI (6件)：

G01N 27/62 F , C08F 20/10 , C08F 20/56 , G01N 27/64 B , G01N 1/28 J , G01N 1/28 W

Fターム (39件)：

2G052AA28 , 2G052AB16 , 2G052AB18 , 2G052AB20 , 2G052AD37 , 2G052AD57 , 2G052CA04 , 2G052DA22 , 2G052FD06 , 2G052GA24 , 2G052JA09 , 4J100AE18P , 4J100AJ02P , 4J100AL08P , 4J100AL09P , 4J100AL10P , 4J100AM21P , 4J100AQ01P , 4J100AQ08P , 4J100AQ15P , 4J100BA03P , 4J100BA08P , 4J100BA16P , 4J100BA29P , 4J100BA30P , 4J100BA31P , 4J100BA32P , 4J100BA33P , 4J100BA51P , 4J100BA52P , 4J100BA56P , 4J100BA58P , 4J100BC53P , 4J100BC54P , 4J100BC65P , 4J100CA01 , 4J100DA28 , 4J100JA15 , 4J100JA17

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