特許

J-GLOBAL ID：200903043699875755

光コヒーレンストモグラフィーの改良型フィゾー干渉計の設計

発明者： タタム, ラルフ, ピーター ,  ジェームズ, ステファン, ウェイン
出願人/特許権者： クランフィールド ユニヴァーシティ
代理人 (2件)： 園田 吉隆 ,  小林 義教
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-501920
公開番号（公開出願番号）：特表2005-524834
出願日： 2003年05月02日
公開日（公表日）： 2005年08月18日
要約：

光コヒーレンストモグラフィーのための新規の干渉計設計が複数記載されている。これらの干渉計は、光効率が、光コヒーレンストモグラフィーシステム固有の信号対雑音比の不足を克服するように設計されている。

請求項（抜粋）：

光源、走査手段、検出手段及び光サーキュレーション手段を備えた光コヒーレンストモグラフィー装置であって、前記光サーキュレーション手段が、光源と検出手段の間の光路上に位置しており、且つ光源から放出された光を試料及び走査手段の両方へ方向付けるように配置されている装置。

IPC (3件)：

G01N21/17 ,  A61B10/00 ,  G01B9/02

FI (3件)：

G01N21/17 620 ,  A61B10/00 E ,  G01B9/02

Fターム (29件)：

2F064AA09 ,  2F064CC01 ,  2F064EE01 ,  2F064EE05 ,  2F064FF03 ,  2F064GG00 ,  2F064GG02 ,  2F064GG12 ,  2F064GG22 ,  2F064GG24 ,  2F064GG52 ,  2F064HH01 ,  2F064HH05 ,  2F064HH06 ,  2F064JJ01 ,  2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB20 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF02 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059NN06

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 光イメージング装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-028231   出願人：ユニバーシティーホスピタルオブクリーブランド, オリンパス光学工業株式会社
• 光断層診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-159270   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 相反光学素子を用いた光コヒーレンス領域反射測定法および光コヒーレンス断層撮影法のための干渉計
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2000-570524   出願人：イザット,ジョセフエイ., ローリンズ,アンドリューエム.
• 光ファイバ干渉計
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2001-540322   出願人：イマラックス・コーポレーション

引用文献：

審査官引用 (1件)

• OPTICS LETTERS, 20010501, V26 N9, P608-610