特許
J-GLOBAL ID：200903043748848602
接触面の良否検出方法および良否検出装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
守田 賢一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-012364
公開番号（公開出願番号）：特開2006-201008
出願日： 2005年01月20日
公開日（公表日）： 2006年08月03日
要約：
【課題】 接触面に生じている微細な間隙や、接触応力の程度を当該接触面の外部から簡易かつ確実に検出する。【解決手段】 二部材M1,M2の接触面Sにバースト超音波を入射させる超音波発信子2と、接触面Sで反射した超音波を受信する超音波受信子2と、超音波受信子2の受信信号を周波数分析して基本波の振幅A1と二次高調波の振幅A2の比(A2/A1)の値を算出するコンピュータ4とを備える。接触面Sで生じる二次高調波の振幅A2と、当該接触面で反射した基本波の振幅A1の比(A2/A1)の値より、接触面Sにおける微細間隙の有無や接触応力の程度を検出することができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
二部材の接触面にバースト超音波を入射させ、接触面で生じる高調波の振幅より、接触面における微細間隙の有無や接触応力の程度を検出することを特徴とする接触面の良否検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N29/20
, G01N29/22 504
2G047AA05
, 2G047AB05
, 2G047BA03
, 2G047BB01
, 2G047BC03
, 2G047EA10
, 2G047GF08
, 2G047GG17
, 2G047GG20
, 2G047GG33
