3次元形状計測装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴江武彦 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-113818
公開番号（公開出願番号）：特開平9-297019
出願日： 1996年05月08日
公開日（公表日）： 1997年11月18日
要約：

【要約】【課題】本発明は、小さな凹凸の正しい形を検出できない場合においても、対象物の概略形状を示すマクロな面の表面状態として、小さな凹凸に対応するミクロな面の位置関係や、高さ分布を記述することが出来る3次元形状計測装置を提供することを目的とする。【解決手段】対象物表面の3次元座標データを取得するレンジファィンダ1と、得られた3次元座標データをグループ化し、平面近似することにより面素を検出する面素検出手段2と、面素検出手段2で生成された多くの面素をグループ化することにより、対象物6を構成する表面を検出する面検出手段3と、面素検出手段2により検出された面に対する平面近似度の悪い面素の位置関係と高さ分布を記述する表面状態検出手段4と、表面状態検出手段4により得られた面の境界の形や面同志の隣接性を記述する形状記述手段5からなることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

(A)対象物表面の3次元座標データ(12)を取得するレンジファィンダ(1)と、(B)前記レンジファィンダ(1)により得られた3次元座標データ(12)をグループ化し、平面近似することにより面素を検出する面素検出手段(2)と、(C)前記面素検出手段(2)により生成された多くの面素をグループ化することにより、対象物(6)を構成する表面を検出する面検出手段(3)と、(D)前記面素検出手段(2)により検出された面に対する平面近似度の悪い面素の位置関係と高さ分布を記述する表面状態検出手段(4)と、(E)前記表面状態検出手段(4)により得られた面の境界の形や面同志の隣接性を記述する形状記述手段(5)を具備したことを特徴とする3次元形状計測装置。

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