射出成形機の品質モニタ・成形品良否判別方法および装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：後藤洋介 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-002196
公開番号（公開出願番号）：特開平7-205242
出願日： 1994年01月13日
公開日（公表日）： 1995年08月08日
要約：

【要約】【目的】品質モニタ値として最適な測定値を得、成形工程の安定度合いを成形機の運転者に知らせ、上記測定値を用いて精度良く成形品の良否判定を行う。【構成】波形データ収集ユニット31で収集された波形データは、波形データ一時保持ユニット32に時系列的に保持される。設定器33は、XYグラフ生成ユニット34に、設定値として、2つの計測値をX軸およびY軸とするように設定する。選択した2つの計測値に対して、XYグラフ生成ユニット34は、一方の計測値の最大値及び/又は最小値を得たときの他方の計測値の値を、測定値として得る。不良品判別ユニット35は、測定値と上限値および下限値を比較し、成形品の良否を判定する。良否判別信号は記憶ユニット36に記憶される。また、不良信号は外部設備へ送出されて、そのショットの成形品を不良品として選別される。

請求項（抜粋）：

射出成形機によって射出成形された成形品の品質をモニタする方法において、前記射出成形機に取り付けられた複数のセンサによって当該射出成形機の運転状態を示すアナログ波形を計測するステップと、該計測されたアナログ波形をデジタルデータに変換するステップと、この変換されたデジタルデータを保持するステップと、保持された計測値のうちの2つを選択するステップと、選択された2つの計測値のうちの一方の最大値及び/又は最小値を求めるステップと、当該一方の計測値が最大値及び/又は最小値をとったときの前記選択された2つの計測値の他方の値を測定値として求めるステップとを含む射出成形機の品質モニタ方法。

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平1-247129
特開昭63-126717
特開昭60-247536

全件表示

前のページに戻る