特許
J-GLOBAL ID:200903043819867549

距離計測装置及び距離計測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西脇 民雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-230614
公開番号(公開出願番号):特開2008-051759
出願日: 2006年08月28日
公開日(公表日): 2008年03月06日
要約:
【課題】照射光の照射領域において別の光源(例えば、街灯や信号機等)の光がある場合でも、この光に影響されることなく複数の照射光をそれぞれ精度よく検出して、対象物までの距離を精度よく計測することができる距離計測装置を提供する。【解決手段】照射制御部5から照射装置4に出力される照射信号に基づいて、照射装置4から照射された複数のスリット光の周期に対応した周期信号を検出する周期信号検出部10と、カメラ2の撮像素子の各画素からの輝度信号に基づいて複数のスリット光の各位相を検出する位相検出部11と、検出された位相検出情報と前記照射信号とに基づいて、複数のスリット光の照射方位を算出する照射方位算出部12と、算出された照射方位情報と、カメラ2と照射装置4との位置関係情報とに基づいて、三角測量法により照射光の照射領域に有る対象物までの距離を算出する距離算出部13を備えている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
所定方向に向けて特定の同じ周期で位相をそれぞれ変化させた複数のパターン化した光からなる照射光を照射可能な照射手段と、 前記照射手段に対し特定の同じ周期で位相をそれぞれ変化させた前記複数のパターン化した光からなる照射光を一度に照射するように制御するための照射信号を出力する照射制御手段と、 前記所定方向の少なくとも前記照射手段から照射される照射光の照射領域を撮像する撮像素子を有する撮像手段と、 前記撮像手段により撮像した画像において、前記照射制御手段から前記照射手段に出力された前記照射信号に基づいて、前記複数のパターン化した光の周期に対応した周期信号を検出する周期信号検出手段と、 前記周期信号検出手段により前記周期信号が検出された画像領域において、前記撮像手段の前記撮像素子を構成する各画素からの輝度信号に基づいて前記複数のパターン化した光の各位相を検出する位相検出手段と、 前記位相検出手段で検出した位相検出情報と前記照射制御手段から出力された前記照射信号とに基づいて、前記複数のパターン化した光の照射方位を算出する照射方位算出手段と、 前記照射方位算出手段により算出された前記複数のパターン化した光の照射方位情報と、前記撮像手段と前記照射手段との位置関係情報とに基づいて、三角測量法により前記照射光の照射領域に有る対象物までの距離を算出する距離算出手段と、を備えた、 ことを特徴とする距離計測装置。
IPC (2件):
G01C 3/06 ,  G01S 17/48
FI (2件):
G01C3/06 110A ,  G01S17/48
Fターム (22件):
2F112AA06 ,  2F112AA09 ,  2F112BA07 ,  2F112CA05 ,  2F112DA32 ,  2F112EA00 ,  2F112EA07 ,  2F112FA07 ,  2F112FA21 ,  2F112FA35 ,  5J084AA05 ,  5J084AB01 ,  5J084AC02 ,  5J084AD07 ,  5J084BA13 ,  5J084BA34 ,  5J084BA43 ,  5J084BB35 ,  5J084CA05 ,  5J084CA18 ,  5J084CA24 ,  5J084EA02
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
  • レール断面測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-326175   出願人:株式会社トキメック
  • 3次元形状測定装置および方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-238896   出願人:富士ゼロックス株式会社
  • 3次元画像入力装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-217152   出願人:旭光学工業株式会社
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