特許

J-GLOBAL ID：200903043822485533

分子配向特性測定装置

発明者： 佐藤 由美子 ,  内田 龍男
出願人/特許権者： アルプス電気株式会社 ,  内田 龍男 ,  菅原 一也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-235565
公開番号（公開出願番号）：特開平7-063670
出願日： 1993年08月27日
公開日（公表日）： 1995年03月10日
要約：

【要約】【目的】 透明な部材の厚さおよびそのバラツキに制約されずに部材を構成する分子の配向特性を正確に測定できる装置を提供する。【構成】 レーザー光源の光軸上に、偏光子と、前記部材を前記レーザー光源の光軸上に設置するための試料台と、1/4波長板と、検光子と、光検出器とがこの順に具備されており、偏光子の偏光軸と1/4波長板の光軸とが同一角度方向になるよう調節可能であり、検光子の偏光軸が前記レーザー光源の光軸を中心として回転自在に保持されており、前記試料台は前記レーザー光源の光軸と平行な方向に前記部材を移動可能な直進台を具備しており、且つ前記直進台を前記レーザー光源の光軸に直交する軸を中心に回転可能に保持する回転台とを具備している分子配向特性測定装置である。

請求項（抜粋）：

透明な部材の分子配向特性を測定するための分子配向特性測定装置であって、レーザー光源の光軸上に、偏光子と、前記部材を前記レーザー光源の光軸上に設置するための試料台と、1/4波長板と、検光子と、光検出器とがこの順に具備されており、偏光子の偏光軸と1/4波長板の光軸とが同一角度方向になるよう調節可能であり、検光子の偏光軸が前記レーザー光源の光軸を中心として回転自在に保持されており、前記試料台は前記レーザー光源の光軸と平行な方向に前記部材を移動可能な直進台を具備しており、且つ前記直進台を前記レーザー光源の光軸に直交する軸を中心に回転可能に保持する回転台とを具備していることを特徴とする分子配向特性測定装置。【0001】