特許

J-GLOBAL ID：200903043823531229

ピストン表面評価装置

発明者： 須田 英雄 ,  斉藤 吉敬
出願人/特許権者： スズキ株式会社
代理人 (1件)： 高橋 勇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-310028
公開番号（公開出願番号）：特開平9-127008
出願日： 1995年11月02日
公開日（公表日）： 1997年05月16日
要約：

【要約】【課題】 撮像環境やピストンの形状に応じて適切な明度の補正を行うこと。【解決手段】 データ入力手段1により入力された画像データを補正するデータ補正手段10と、このデータ補正手段10によって補正された画像データに基づいてピストンの表面評価を行うデータ処理手段2とを備えている。さらに、データ補正手段10が、画像データのヒストグラムを算出するヒストグラム算出部12と、このヒストグラム情報に基づいて階調値の最大値(max)から一定数(m)個目の画素の階調値を上端階調値(W_lev)として算出すると共に当該階調値の最小値(min)から一定数(n)個目の階調値を下端階調値(B_lev)として算出する補正レベル算出部14と、この補正レベル算出部14から出力された上端階調値(W_lev)から下端階調値(B_lev)までの範囲で所定数の階調となるように画像データを変更するデータ変更部16とを備えている。

請求項（抜粋）：

ピストンの側面を撮像するデータ入力手段と、このデータ入力手段により入力された画像データを補正するデータ補正手段と、このデータ補正手段によって補正された画像データに基づいて前記ピストンの表面評価を行うデータ処理手段とを備えたピストン表面評価装置において、前記データ補正手段が、前記データ入力手段から入力された画像データのヒストグラムを算出するヒストグラム算出部と、このヒストグラム算出部によって算出されたヒストグラム情報に基づいて階調値が最大値の画素から一定数個目の画素の階調値を上端階調値として算出すると共に当該階調値が最小値の画素から一定数個目の画素の階調値を下端階調値として算出する補正レベル算出部と、この補正レベル算出部から出力された前記上端階調値から前記下端階調値までの範囲で所定数の階調となるように前記画像データを変更するデータ変更部とを備えたことを特徴とするピストン表面評価装置。