光ファイバの試験方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：志賀正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-166572
公開番号（公開出願番号）：特開平9-018428
出願日： 1995年06月30日
公開日（公表日）： 1997年01月17日
要約：

【要約】【目的】最適な検出条件を設定し、光ファイバの近端から終端までの間に発生する接続点の位置および接続損失を自動的に高精度で測定することができる光ファイバの試験方法を提供することを目的としている。【構成】被測定光ファイバ12内の戻り光波形をHOUGH変換ならびに平均微分処理することにより、接続点の有無や位置、ならびに損失を測定する。

請求項（抜粋）：

被測定光ファイバにパルス光を入射させ、所定時間毎に前記被測定光ファイバ内で発生する後方散乱光およびフレネル反射光からなる戻り光を受光し、前記戻り光の波形に基づいて前記被測定光ファイバの伝搬損失ならびに接続点を測定する光ファイバの試験方法であって、(1)前記戻り光波形の近端に、前記接続点検出の開始点を設定する第1のステップと、(2)前記戻り光波形内において、複数のフレネル反射空間により分割される複数の接続点検出範囲を決定し、前記接続点検出範囲内の前記受光点数が所定の値を上回る場合、当該接続点検出範囲を各々前記所定の値より小さい領域毎に分割する第2のステップと、(3)前記第2のステップで分割された前記領域内の各々について、総ノイズ量を計算し、この総ノイズ量に基づいて各領域毎のHOUGH変換のパラメータならびに中央値フィルタのパラメータを決定する第3のステップと、(4)前記第2のステップで分割された領域の各々について、HOUGH変換処理を行う第4のステップと、(5)前記HOUGH変換後の前記各領域毎の前記波形データの各々について、中央値フィルタ処理を行う第5のステップと、(6)前記第5のステップで処理された前記各領域毎の前記波形データの各々について、移動平均差分処理を行う第6のステップと、(7)前記第6のステップで処理された前記各領域毎の前記波形データの各々について、平均値より大きい箇所を仮接続点位置として検出・判定する第7のステップと、(8)前記第7のステップで検出された前記各領域毎の前記仮接続点位置の左右の各々について、前記戻り光波形データを用いて近似直線を求め、前記各近似直線より接続損失を計算し、この接続損失値に基づいて前記仮接続点位置が実接続点位置であるか否かを判定する第8のステップとから成ることを特徴とする光ファイバの試験方法。

IPC (6件)：

H04B 17/00 , G02B 6/00 , H04B 10/14 , H04B 10/135 , H04B 10/13 , H04B 10/12

FI (3件)：

H04B 17/00 M , G02B 6/00 A , H04B 9/00 Q

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