特許

J-GLOBAL ID：200903043851347220

3次元形状計測装置およびその計測方法

発明者： 仮屋 一昭 ,  久保 敦 ,  伊藤 博雅
出願人/特許権者： 鹿児島県
代理人 (1件)： 水元 弘二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-096311
公開番号（公開出願番号）：特開2003-294424
出願日： 2002年03月29日
公開日（公表日）： 2003年10月15日
要約：

【要約】【課題】ノイズにより生じる計測誤差を改善するとともに,任意の波長での表面情報を取得できる3次元形状計測装置とその計測方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明は,分光されたスペクトルパターンを計測する物体面に投射する手段と,音響光学チューナブルフィルタをカメラの前段に有したスペクトルパターンを撮像する手段と,透過する光の波長の変化とカメラの撮像タイミングを同期して複数回撮像する手段と,得られる画像から三角法により物体面の3次元形状を得る手段からなる3次元形状計測装置である。計測する物体面に白色光を投射し音響光学チューナブルフィルタの透過波長を制御し,物体面から反射されたスペクトルパターンを,音響光学チューナブルフィルタとカメラを同期して一回あるいは複数回撮像し,得られた画像から,画像演算回路で物体面の表面の情報を演算することをさらに具備した請求項4に記載の3次元形状計測方法である。

請求項（抜粋）：

分光されたスペクトルパターンを計測する物体面に投射する手段と,音響光学チューナブルフィルタをカメラの前段に有したスペクトルパターンを撮像する手段と,透過する光の波長の変化とカメラの撮像タイミングを同期して複数回撮像する手段と,得られる画像から三角法により物体面の3次元形状を得る手段からなる3次元形状計測装置。

IPC (2件)：

G01B 11/24 ,  G06T 1/00 315

FI (3件)：

G06T 1/00 315 ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 A

Fターム (25件)：

2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065GG02 ,  2F065GG24 ,  2F065HH01 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ08 ,  2F065LL04 ,  2F065LL12 ,  2F065LL22 ,  2F065LL42 ,  2F065LL57 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU01 ,  2F065UU02 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057BA15 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC03 ,  5B057DC25