特許
J-GLOBAL ID:200903043865614981
X線異物位置検出装置及び方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
小栗 昌平
, 本多 弘徳
, 市川 利光
, 高松 猛
, 濱田 百合子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-134518
公開番号(公開出願番号):特開2004-340606
出願日: 2003年05月13日
公開日(公表日): 2004年12月02日
要約:
【課題】物品のインライン検査などのように産業用途への適用に好適であって、製造コストの削減、歩留まりの向上をもたらすことができるX線異物位置検出装置及び方法を提供する。【解決手段】X線を被検査物5に照射するX線源2と、X線の被検査物5内部での透過状態を撮像する撮像器3と、被検査物5を特定方向に搬送させる搬送手段6と、被検査物5での異物の3次元的な位置を特定する位置特定手段とを備えた。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
X線を被検査物に照射するX線源と、
前記被検査物を透過したX線画像を前記被検査物の同一方向から複数の角度で撮像する撮像器と、
前記被検査物を前記X線の照射主軸と直交する方向に搬送させる搬送手段と、
複数の画像から異物の移動距離又は移動時間を算出して前記被検査物での異物の3次元的な位置を特定する位置特定手段と
を備えたことを特徴とするX線異物位置検出装置。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (21件):
2F067AA04
, 2F067AA24
, 2F067DD01
, 2F067DD09
, 2F067HH04
, 2F067JJ03
, 2F067LL16
, 2F067PP15
, 2F067RR21
, 2F067RR35
, 2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA06
, 2G001DA09
, 2G001GA13
, 2G001JA09
, 2G001KA03
, 2G001LA01
, 2G001PA01
, 2G001PA11
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