特許
J-GLOBAL ID：200903043876157981
電子部品等試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 次男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-242614
公開番号（公開出願番号）：特開平5-052907
出願日： 1991年08月28日
公開日（公表日）： 1993年03月02日
要約：
【要約】【目的】信号生成・測定の複雑な制御とその時間管理をりょりつさせ、実動動作環境に非常に近い状態でのDUT試験を可能とし、試験の信頼性向上を図る。【構成】スレーブサブシステム11,12,・・・は、マスタサブシステム10の制御・管理下に置かれて動作する。制御信号同期化手段3は、マスタスレーブシステム10からの制御信号をいずれかのマスタクロックMCLK1,2に同期させ、これをクロック分配手段4を介して各スレーブサブシステムに出力する。このとき制御同期化信号と同一タイミングのマスタクロックが各スレーブサブシステムに入力されるようにクロック分配手段5が制御される。こうして、スレーブサブシステムは、入力したマスタクロックを所定整数倍で分割して該スレーブサブシステムの動作タイミングを生成する。
請求項（抜粋）：
マスタサブシステムと該マスタサブシステムの制御・管理下に置かれて動作する少なくとも1のスレーブサブシステムとからなるサブシステム群と、少なくとも2つのマスタクロック発生器及びこれらのマスタクロック信号を上記各スレーブサブシステムに出力するマスタクロック分配手段と、上記マスタサブシステムからの制御信号を入力し、該制御信号を上記マスタクロック信号のうち何れかに同期させる制御信号同期化手段及びこの同期化した制御信号を上記各スレーブサブシステムに分配する制御同期信号分配手段と、を有して成ることを特徴とする電子部品等試験装置。
IPC (4件)：
G01R 31/28
, G06F 1/04 301
, G06F 11/22 310
, G06F 11/22 330
