特許

J-GLOBAL ID：200903043883713008

抵抗測定装置、抵抗測定用集積回路及び抵抗測定方法

発明者： 小松 和弘 ,  笠目 知秀 ,  木戸 啓介
出願人/特許権者： 富士通テン株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-169272
公開番号（公開出願番号）：特開2005-003596
出願日： 2003年06月13日
公開日（公表日）： 2005年01月06日
要約：

【課題】プルアップ抵抗またはプルダウン抵抗をIC内部に形成しても高精度に抵抗測定を行うことができる抵抗測定装置、抵抗測定用集積回路及び抵抗測定方法を提供する。【解決手段】通常時は、負荷接続用スイッチSW1がオン、リファレンス抵抗接続用スイッチSW2がオフとなっており、このとき、スイッチSW1とサーミスタ1の接続点P1の電圧がA/D変換器7のチャンネルCH1に入力され、プルアップ抵抗R1の抵抗値補正時には、負荷接続用スイッチSW1がオフ、リファレンス抵抗接続用スイッチSW2がオンとなり、このとき、スイッチSW2とリファレンス抵抗4の接続点P2の電圧がA/D変換器7のチャンネルCHrefに入力される。そして、これらの電圧値を演算することにより、プルアップ抵抗R1の抵抗値のばらつき、温度特性による抵抗値変化があってもサーミスタ1の抵抗値を高精度に求めることができる。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被測定抵抗をプルアップ抵抗またはプルダウン抵抗に接続し、接続点の電圧を検出することにより被測定抵抗の抵抗値を測定する抵抗測定装置において、 リファレンス抵抗と、 プルアップ抵抗またはプルダウン抵抗を被測定抵抗と上記リファレンス抵抗との間で切替える切替手段とを備え、 上記プルアップ抵抗またはプルダウン抵抗をリファレンス抵抗に接続した時の接続点の電圧により上記プルアップ抵抗またはプルダウン抵抗の抵抗値補正を行うことを特徴とする抵抗測定装置。

IPC (1件)：

G01R27/02

FI (1件)：

G01R27/02 R

Fターム (6件)：

2G028AA01 ,  2G028BB01 ,  2G028CG02 ,  2G028DH10 ,  2G028GL07 ,  2G028MS03