特許

J-GLOBAL ID：200903043903260358

塩素イオン濃度の測定方法

発明者： 寺内 靖弘 ,  榊 徹
出願人/特許権者： 株式会社トクヤマ ,  株式会社エイアンドティー
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-255173
公開番号（公開出願番号）：特開平8-122299
出願日： 1994年10月20日
公開日（公表日）： 1996年05月17日
要約：

【要約】 (修正有)【構成】 第四級アンモニウム基を有する直鎖状重合体などの膜状物からなるイオン感応膜12を装着した塩素イオン電極21を用いて被検液中の塩素イオン濃度を測定するに際し、被検液の水素イオン濃度(pH)を5.8〜6.6の範囲とする塩素イオン濃度測定方法。【効果】 被検液中の迅速かつ耐有機汚染性に優れた塩素イオン濃度測定が実施できる。

請求項（抜粋）：

イオン感応膜を装着した塩素イオン電極と被検液を接触させ、塩素イオン濃度に応じて生じる塩素イオン電極の出力電位を測定することにより被検液中の塩素イオン濃度を決定する方法において、被検液の水素イオン濃度(pH)を5.8〜6.6の範囲とすることを特徴とする塩素イオン濃度の測定方法。

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭55-060848
  
• 特開昭63-262558