特許

J-GLOBAL ID：200903043910458821

追記型光デイスクへの記録方法及び光デイスク記録装置

発明者： 河野 睦
出願人/特許権者： パイオニア株式会社
代理人 (1件)： 石川 泰男 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-165796
公開番号（公開出願番号）：特開平5-012669
出願日： 1991年07月05日
公開日（公表日）： 1993年01月22日
要約：

【要約】【目的】 プログラムエリアへの記録動作に先立って行われるテスト記録に要する時間を短縮しうる追記型光ディスクの記録方法・装置を提供する。【構成】 光ビームを任意の光強度で照射してテスト記録が可能な複数のテスト領域と、この複数のテスト領域の各々へのテスト記録の有無を示すカウント情報の記録が可能でテスト領域の各々と対応する複数のカウント領域と、情報記録領域と、を備えた追記型光ディスクへの記録方法であって、所定の動作指令が入力されている場合にのみ、カウント情報が記録されていない未記録カウント領域を探索する第1工程と、次いで、第1工程において少なくとも1つの未記録カウント領域を探知した場合にのみ、探知された未記録カウント領域の1つにカウント情報を記録する第2工程と、カウント情報が記録された1つのカウント領域に対応する1つのテスト領域を探索し、このテスト領域においてテスト記録を行い、情報記録に最適な光強度を測定して決定する第3工程と、この最適光強度により情報記録領域に情報記録を行う第4工程と、を有して構成される。

請求項（抜粋）：

光ビームを任意の光強度で照射してテスト記録が可能な複数のテスト領域と、当該複数のテスト領域の各々への前記テスト記録の有無を示すカウント情報の記録が可能で前記複数のテスト領域の各々と対応する複数のカウント領域と、情報記録領域と、を備えた追記型光ディスクへの記録方法であって、所定の動作指令が入力されている場合にのみ、前記複数のカウント領域のうち前記カウント情報が記録されていない未記録カウント領域を探索する第1工程と、次いで、当該第1工程において少なくとも1つの未記録カウント領域を探知した場合にのみ、当該探知された未記録カウント領域の1つに前記カウント情報を記録する第2工程と、次いで、当該カウント情報が記録された1つのカウント領域に対応する1つのテスト領域を探索し、当該1つのテスト領域において前記テスト記録を行い、情報記録に最適な光強度を測定して決定する第3工程と、次いで、当該最適光強度により前記情報記録領域に情報記録を行う第4工程と、を有することを特徴とする追記型光ディスクへの記録方法。

IPC (3件)：

G11B 7/00 ,  G11B 7/125 ,  G11B 27/10

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平1-315029
  
• 特開平3-250427
  
• 特開平2-018715