特許
J-GLOBAL ID：200903043999976057
質量分析計
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-252513
公開番号（公開出願番号）：特開平6-102246
出願日： 1992年09月22日
公開日（公表日）： 1994年04月15日
要約：
【要約】【目的】 イオン強度を安定にかつ強く得る静電噴霧イオン源を備えた液体クロマトグラフ・質量分析計を提供する。【構成】 噴霧細管11の軸とイオン取り込み細孔の中心軸とをずらして配置する。液体クロマトグラフから溶出する試料溶液は、配管2、コネクタ10を介して噴霧細管11に導入される。噴霧細管11とイオン導入細孔15aの開口する対向電極12との間に、数キロボルトの電圧を印加し溶液を静電噴霧させる。噴霧用ガス噴出口13より乾燥窒素などのガスを流す。帯電液滴が気化しイオンが生成され、イオン導入細孔15a、差動排気部19、イオン導入細孔15bを通して質量分析部6に取り込まれる。噴霧細管11の先端と対向電極12との間に障壁20aを設ける。【効果】 イオン導入細孔周囲の温度変化を軽減し、イオン強度を安定に観測できる。
請求項（抜粋）：
液体クロマトグラフから送られてくる試料溶液を噴霧細管の一端に導入しこの噴霧細管の他端から静電噴霧させイオンを生成するための静電噴霧イオン源、この生成したイオンを真空部に導入するためのイオン導入細孔、及びこの導入されたイオンを質量分析するための質量分析部を備えた質量分析計において、前記噴霧細管の先端と前記イオン導入細孔の開口する電極との間に障壁を設け、静電噴霧により生成された噴流の中心部が前記イオン導入細孔の開口する電極に接触することを妨げることを特徴とする質量分析計。
IPC (3件)：
G01N 27/62
, G01N 30/72
, H01J 49/10
