特許

J-GLOBAL ID：200903044054321107

寸法測定装置

発明者： 滝政 宏章 ,  岡田 道俊 ,  米田 聡 ,  吉田 富省
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (1件)： 中村 茂信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-052274
公開番号（公開出願番号）：特開平8-247726
出願日： 1995年03月13日
公開日（公表日）： 1996年09月27日
要約：

【要約】【目的】 測定対象物の寸法のみならず、光路方向の位置も測定可能な寸法測定装置を提供する。【構成】 投光素子1からの光をレンズ2で平行光にして、測定対象物3に照射し、投影部を含む平行光をCCDイメージセンサ4で受光して出力し、出力信号の明に相当するレベルの25%を閾値Th1 とし、後尾エッジのピーク値より、若干手前の所定の閾値Th2 を設定し、これら閾値Th1 、Th2 をコンパレータ7、8で出力信号に適用し、エッジ生成部9で閾値Th1 、Th2 間に相当するゲートを生成し、メモリ11及びCPU13でこのゲートの長さを求め、この長さと寸法から測定対象物3の光路方向の位置を求める。

請求項（抜粋）：

測定対象物に平行光を照射する投光部と、測定対象物を経て入光する前記平行光を受光する一次元受光センサと、この一次元受光センサの出力信号を2値化して、2値化信号の変化するエッジ部分より、測定対象物の寸法を測定する手段と、前記一次元受光センサの出力信号の所定値からピークまでの区間長さを検出し、これにより測定対象物の光路方向の位置を算出する算出手段とを、備えた寸法測定装置。