特許
J-GLOBAL ID：200903044083225826
マルチ電子ビーム源とその駆動方法及びそれを用いた画像形成装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大塚 康徳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-323773
公開番号（公開出願番号）：特開平7-181911
出願日： 1993年12月22日
公開日（公表日）： 1995年07月21日
要約：
【要約】【目的】複数の表面伝導型放出(SCE)素子を配置した画像形成パネルにおける、各素子による輝度のバラつきを補正する。【構成】一定の値の信号を入力した場合の、画像形成パネルの各SCE素子の素子電流を、電流モニタ110により補正データ作成部113でモニタする。この値が、記憶されている素子電流データと一致していなければ、モニタした素子電流が、記憶されている電流データと一致する方向に補正されるよう、入力信号を補正するLUT106内の補正テーブルに適当な値を書込む。こののち、補正された信号により駆動される素子の素子電流を再び測定し、電流データと再び比較する。モニタする素子電流と、記憶された素子電流データとがおおむね一致するまで、これを繰り返す。こうして全素子についてこれを行なえば、バラつきを補正できる。なお、モニタの対象は素子電流でなく、輝度測定装置115により輝度をモニタしても良いし、電流モニタ118によりSCE素子からの放出電流をモニタしても良い。
請求項（抜粋）：
基板上に多数の表面伝導型放出素子を形成してなり、少なくとも、各電子放出素子に流れる素子電流を測定する手段と、前記測定手段により測定された結果を記憶するための素子電流記憶手段と、前記測定手段の測定結果と前記記憶手段の記憶内容とを各電子放出素子ごとに比較する比較手段と、各電子放出素子ごとの駆動補正値を記憶するための補正値記憶手段とを備えるマルチ電子ビーム源の駆動方法であって、各電子放出素子は前記補正値記憶手段に記憶された駆動補正値にしたがって駆動され、前記比較手段で比較された結果が所定の数値範囲を越えた場合には、前記補正値記憶手段により記憶された駆動補正値を修正するとともに、前記素子電流記憶手段により記憶された電流の値を修正された駆動補正値で駆動した場合の素子電流の測定値に書き換えることを特徴とするマルチ電子ビーム源の駆動方法。
IPC (4件)：
G09G 1/20
, H01J 1/30
, H04N 5/66
, H01J 31/12
