特許
J-GLOBAL ID：200903044097672213
微細単線の放射率測定方法及びその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
清水 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-166133
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356612
出願日： 1999年06月14日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
要約：
【要約】【課題】 簡便に極微細単線そのものの放射率を測定することができる微細単線の放射率測定方法及びその装置を提供する。【解決手段】 一様な体積発熱をする2本の熱線1,2を平行に配置するとともに、これらの2本の熱線1,2間に試料細線3を接続し、2本の熱線1,2を直接通電加熱し、一方の熱線1から試料細線3へ加えられる熱量ともう一方の熱線2から試料細線3へ加えられる熱量を等しくし、試料細線3に加えられた熱量をすべて放射により試料細線3から放熱させ、2本の熱線1,2の体積平均温度に関する定常熱伝導の理論解と測定により得られる熱線の体積平均温度上昇の定常値を比較することにより、試料細線3の放射率を求める。
請求項（抜粋）：
微細単線の放射率測定方法において、(a)一様な体積発熱をする2本の熱線を平行に配置するとともに、該2本の熱線間に試料細線を接続し、(b)前記2本の熱線を直接通電加熱し、一方の熱線から前記試料細線へ加えられる熱量ともう一方の熱線から前記試料細線へ加えられる熱量を等しくし、(c)前記試料細線に加えられた熱量をすべて放射により該試料細線から放熱させ、前記2本の熱線の体積平均温度に関する定常熱伝導の理論解と測定により得られる熱線の体積平均温度上昇の定常値を比較することにより、前記試料細線の放射率を求めることを特徴とする微細単線の放射率測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 25/18 J
, G01J 5/00 B
2G040AB08
, 2G040AB10
, 2G040AB12
, 2G040BA02
, 2G040BA21
, 2G040CA13
, 2G040CB09
, 2G040DA02
, 2G040DA12
, 2G040EA02
, 2G040EA11
, 2G040EB02
, 2G040EC03
, 2G040FA10
, 2G040HA07
, 2G040HA16
, 2G040ZA05
, 2G066AC20
, 2G066BC11
, 2G066CA11
