特許

J-GLOBAL ID：200903044118577054

発光装置の光量補正方法、画像形成装置及び表示装置

発明者： 茅野 岳人
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  藤綱 英吉 ,  須澤 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-229141
公開番号（公開出願番号）：特開2007-044898
出願日： 2005年08月08日
公開日（公表日）： 2007年02月22日
要約：

【課題】 低コストで印字品質を保ち発光素子の劣化を抑える。【解決手段】 複数の発光素子を備えた発光装置の光量補正方法において、複数の発光素子を所定の階調値で発光させた時の光量値を測定し、光量値リストを生成する光量値測定工程と、ハイパスフィルタをかけ、光量値リストの高周波成分を取り出した高周波光量値リストを生成する高周波成分抽出工程と、ローパスフィルタをかけ、光量値リストの低周波成分を取り出した低周波光量値リストを生成する低周波成分抽出工程と、高周波光量値リストの各光量値が第1の許容範囲に収まるように補正する第1の補正値と、低周波光量値リストの各光量値が第2の許容範囲に収まるように補正する第2の補正値を算出し、第1の補正値と第2の補正値に基づき複数の発光素子の補正値を算出する補正値算出工程と、複数の発光素子に対する入力データの階調値を補正値に基づき補正する階調値補正工程と、からなる。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

入力データの階調値に応じて駆動される複数の発光素子を備えた発光装置の光量補正方法において、 前記複数の発光素子を所定の階調値で発光させた時の光量値を各々測定し、光量値リストを生成する光量値測定工程と、 前記光量値リストに対し所定の遮断周波数によりハイパスフィルタをかけ、前記光量値リストの高周波成分を取り出した高周波光量値リストを生成する高周波成分抽出工程と、 前記光量値リストに対し所定の遮断周波数によりローパスフィルタをかけ、前記光量値リストの低周波成分を取り出した低周波光量値リストを生成する低周波成分抽出工程と、 前記高周波光量値リストの各光量値が所定の第1の許容範囲に収まるように補正する第1の補正値と、前記低周波光量値リストの各光量値が所定の第2の許容範囲に収まるように補正する第2の補正値を算出し、前記第1の補正値と前記第2の補正値に基づき前記複数の発光素子の各々に対し補正値を算出する補正値算出工程と、 前記複数の発光素子に対する前記入力データの各々の階調値を前記補正値に基づき補正する階調値補正工程と、 からなる、 ことを特徴とする発光装置の光量補正方法。

IPC (6件)：

B41J 2/44 ,  B41J 2/45 ,  B41J 2/455 ,  G03G 15/04 ,  H04N 1/23 ,  H04N 1/407

FI (4件)：

B41J3/21 L ,  G03G15/04 ,  H04N1/23 103Z ,  H04N1/40 101E

Fターム (36件)：

2C162AE04 ,  2C162AE09 ,  2C162AE10 ,  2C162AE13 ,  2C162AE21 ,  2C162AE28 ,  2C162AE47 ,  2C162AF13 ,  2C162AF20 ,  2C162AF21 ,  2C162AF24 ,  2C162AF39 ,  2C162AF44 ,  2C162AF70 ,  2C162AF72 ,  2C162AF84 ,  2C162FA16 ,  2C162FA36 ,  2H076AB42 ,  2H076AB55 ,  2H076DA32 ,  2H076EA01 ,  5C074AA02 ,  5C074BB04 ,  5C074BB26 ,  5C074DD03 ,  5C074DD11 ,  5C074EE06 ,  5C074GG16 ,  5C074HH02 ,  5C077LL19 ,  5C077PP02 ,  5C077PP03 ,  5C077PP15 ,  5C077PP72 ,  5C077TT02

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開昭59-194566号公報
  
• 特開昭60-107373号公報
  
• 特開昭62-246753号公報