特許

J-GLOBAL ID：200903044128644744

穀粒の評価装置

発明者： 鈴木 良治 ,  森本 進 ,  樗木 安己
出願人/特許権者： 株式会社クボタ
代理人 (1件)： 北村 修 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-257967
公開番号（公開出願番号）：特開平10-104164
出願日： 1996年09月30日
公開日（公表日）： 1998年04月24日
要約：

【要約】【課題】 穀粒存在予定箇所における穀粒の保持を比較的容易に行いながら、しかも、各穀粒についてのラベリング処理を簡素に行うようにする。【解決手段】 複数個の穀粒kが一層状態で且つ単位穀粒幅で列状に並んだ穀粒層を保持するための穀粒保持手段1と、穀粒kの存在予定箇所に対して照明光を投射する照明手段2と、穀粒kの画像を撮像する撮像手段3と、保持された列状の穀粒層を撮像した撮像画像情報に基づいて列状の穀粒層における各穀粒夫々に対応する領域をラベリングするラベリング処理手段とが設けられ、撮像画像情報に基づいて穀粒の品質を評価する品質評価手段が、ラベリングされた各穀粒夫々の画像によって穀粒の品質評価を行う。

請求項（抜粋）：

穀粒の存在予定箇所に対して照明光を投射する照明手段(2)と、前記照明手段(2)にて照明された前記存在予定箇所での穀粒の画像を撮像する撮像手段(3)と、前記撮像手段(3)の撮像画像情報に基づいて穀粒の品質を評価する品質評価手段(200)とが設けられた穀粒の評価装置であって、前記存在予定箇所において複数個の穀粒が一層状態で且つ単位穀粒幅で列状に並んだ穀粒層を保持するための穀粒保持手段(1)と、前記穀粒保持手段(1)にて保持された前記列状の穀粒層を撮像した前記撮像手段(3)の撮像画像情報に基づいて、前記列状の穀粒層における各穀粒夫々に対応する領域をラベリングするラベリング処理手段(100)とが設けられ、前記品質評価手段(200)は、前記ラベリング処理手段(100)にてラベリングされた各穀粒夫々の画像によって前記穀粒の品質評価を行うように構成されている穀粒の評価装置。

IPC (3件)：

G01N 21/84 ,  B07C 5/342 ,  G01N 21/59

FI (3件)：

G01N 21/84 Z ,  B07C 5/342 ,  G01N 21/59 Z