特許
J-GLOBAL ID：200903044163858757
光吸収量測定方法および装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大西 正悟
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-044986
公開番号（公開出願番号）：特開平10-239213
出願日： 1997年02月28日
公開日（公表日）： 1998年09月11日
要約：
【要約】【課題】 光照射部の発熱による温度変化を直接且つ正確に測定して、光学材料の光吸収量を正確に測定する。【解決手段】 合成石英ガラスなどから作られた試験片3に光源1からエキシマレーザ光のような所定の光を照射し、この試験片1における光照射箇所の温度変化を赤外線放射温度計4により測定し、このように測定された温度変化に基づいて試験片1の光吸収量を測定する。なお、光源1からの光としては好ましくは波長400nm以下の紫外線レーザ光が用いられ、赤外線放射温度計は波長8〜13μmの赤外線検出に基づいて温度変化測定を行うのが望ましい。
請求項（抜粋）：
測定対象に所定の光を照射し、前記測定対象における前記光が照射された箇所の温度変化を赤外線放射温度計により測定し、このように測定された温度変化に基づいて前記測定対象の光吸収量を測定することを特徴とする光吸収量測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M 11/02 B
, G01J 5/00 Z
