特許

J-GLOBAL ID：200903044184124885

放射線検出装置およびその効率校正方法

発明者： 板津 英輔 ,  林 文成 ,  高橋 幸嗣 ,  齋藤 正喜 ,  山中 宏青
出願人/特許権者： セイコー・イージーアンドジー株式会社
代理人 (1件)： 松下 義治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-222415
公開番号（公開出願番号）：特開2008-083037
出願日： 2007年08月29日
公開日（公表日）： 2008年04月10日
要約：

【課題】 放射線検出装置の全吸収ピーク効率を、試料の形状に左右されることなく計算により高精度に求め、これを用いて放射線検出装置の校正を行う方法およびその放射線検出装置を提供することを目的とする。【解決手段】 第1のコンタクトと第2のコンタクトの2つのコンタクトを有するゲルマニウム結晶を備えたゲルマニウム半導体放射線検出装置の全吸収ピーク効率計算方法において、前記第1のコンタクトに対応する第1の不感層の厚さ67と前記第2のコンタクトに対応する第2の不感層の厚さ71を、ガンマ線を放出する標準線源の測定とモンテカルロ計算により決定することで、任意の形態の試料の全吸収ピーク効率をもとめこれを用いて放射線検出装置の校正を行う。【選択図】 図9

請求項（抜粋）：

有感領域と、有感領域の中で放射線の相互作用により発生した電荷を取り出す第1のコンタクト及び第2のコンタクトと、第1のコンタクトにより形成され、放射線に不感である第1の不感層と、第2のコンタクトにより形成され、放射線に不感である第2の不感層とを有する放射線検出装置の効率校正方法であって、 所定の物性値が既知の標準線源である第1の標準線源を用いて、効率校正対象の放射線検出装置により、前記第1の標準線源から発生する第1のガンマ線の全吸収ピーク計数率を測定する第1の全吸収ピーク計数率の測定ステップと、 前記第1の全吸収ピーク計数率の測定値から第1の実測全吸収ピーク効率の算出ステップと、 前記第1の不感層の厚さを一つ以上仮定して、前記第1のガンマ線の全吸収ピーク計数率測定の構成をモデル化し、第1の全吸収ピーク効率の計算値を求める第1の計算全吸収ピーク効率の算出ステップと、 前記第1の実測全吸収ピーク効率と前記第1の計算全吸収ピーク効率を比較して第1の不感層の厚さを決定するステップと、 第2の標準線源を用いて、効率校正対象の放射線検出装置により、前記第2の標準線源から発生する第2のガンマ線の全吸収ピーク計数率を測定する第2の全吸収ピーク計数率の測定ステップと、 前記第2の全吸収ピーク計数率の測定値から第2の実測全吸収ピーク効率の算出ステップと、 前記第2の不感層の厚さを一つ以上仮定して、前記第2のガンマ線の全吸収ピーク計数率測定の構成をモデル化し、第2の全吸収ピーク効率の計算値を求める第2の計算全吸収ピーク効率の算出ステップと、 前記第2の実測全吸収ピーク効率と前記第2の計算全吸収ピーク効率を比較して第2の不感層の厚さを決定するステップと、 決定された前記第1の不感層の厚さと前記第2の不感層の厚さを取り入れて、前記放射線検出装置により、任意の線源から発生するガンマ線を計数する構成をモデル化してモデル化全吸収ピーク効率の算出ステップと 前記モデル化全吸収ピーク効率を表示、記録または演算装置に記憶ステップとを有することを特徴とする放射線検出装置の効率校正方法。

IPC (1件)：

G01T 1/24

FI (1件)：

G01T1/24

Fターム (9件)：

2G088EE07 ,  2G088EE08 ,  2G088EE17 ,  2G088FF04 ,  2G088FF15 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ07 ,  2G088JJ31 ,  2G088LL28