特許

J-GLOBAL ID：200903044231923295

寸法測定方法及び装置

発明者： 早田 隆 ,  中原 宏尊
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-190093
公開番号（公開出願番号）：特開2000-018921
出願日： 1998年07月06日
公開日（公表日）： 2000年01月21日
要約：

【要約】【課題】遠隔走査によってカメラを狭隘部へ近接し、カメラと構造物表面の距離を計測することなく、きずやき裂欠陥の実寸法測定を行う。【解決手段】検査対象物90の表面を撮影するカメラを有する寸法測定装置本体1と、寸法測定装置本体1に装備されて検査対象物90の表面に既知の長さの平行光線によるスリット光22を照射する照射手段と、前記スリット光22とき裂欠陥91とを同時に前記カメラで撮像して前記カメラの画像を取り込み各種の画像処理を行う画像処理手段と、前記画像処理手段からのき裂欠陥画像91Aとスリット光画像22Aを含んだ画像51を表示する表示手段とから構成し、前記スリット光画像22Aを基準に、き裂欠陥91の実寸法を求める。

請求項（抜粋）：

検査対象が存在する構造物の表面に照射した既知の長さの照射物と、前記検査対象とを同時に撮影し、その撮影した画像中の前記照射物の画像を基準に、前記検査対象の実寸法を求める寸法測定方法。

IPC (3件)：

G01B 11/02 ,  G01N 21/88 ,  G06T 1/00

FI (3件)：

G01B 11/02 H ,  G01N 21/88 Z ,  G06F 15/62 380

Fターム (40件)：

2F065AA22 ,  2F065AA23 ,  2F065AA49 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF23 ,  2F065FF26 ,  2F065FF67 ,  2F065GG04 ,  2F065HH03 ,  2F065HH04 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL12 ,  2F065LL50 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2G051AA83 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051AC21 ,  2G051BB01 ,  2G051BB20 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051DA05 ,  2G051EA12 ,  2G051EB01 ,  2G051EC06 ,  2G051ED08 ,  5B057AA01 ,  5B057BA15 ,  5B057DA03 ,  5B057DA20 ,  5B057DB02 ,  5B057DC03

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平3-102202
  
• 原子力燃料集合体の外観検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-091129   出願人：三菱重工業株式会社