特許
J-GLOBAL ID：200903044243628850
磁気テープ検査方法及び磁気テープ検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-014635
公開番号（公開出願番号）：特開平8-201309
出願日： 1995年01月31日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：
【要約】【目的】 磁気テープ表面の傷、汚れ、形状不良、異物等による不良を高SN比で確実に検出することが可能な磁気テープ検査方法並びに磁気テープ検査装置を提供する。【構成】 センサーヘッドを走行する磁気テープと対向配置し、その表面を光学的に検査するに際し、上記センサーヘッドの光軸方向を磁気テープの主面の法線方向に対して5 ゚〜9.5 ゚傾ける。このようにセンサーヘッドの光軸を垂直方向から5 ゚〜9.5 ゚傾けると、不良部に由来する信号出力がノイズ成分に対して相対的に大きくなり、高SN比で検出される。センサーヘッドは、投光部と受光部を有し、前記投光部から光を照射し、磁気テープからの反射光を前記受光部で検出する。投光部及び受光部は、例えば光ファイバによって構成される。
請求項（抜粋）：
センサーヘッドを走行する磁気テープと対向配置し、その表面を光学的に検査する磁気テープ検査方法において、上記センサーヘッドの光軸方向を磁気テープの主面の法線方向に対して5 ゚〜9.5 ゚傾けることを特徴とする磁気テープ検査方法。
IPC (2件)：
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