照射位置照合システム

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：加古進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-340568
公開番号（公開出願番号）：特開2006-149438
出願日： 2004年11月25日
公開日（公表日）： 2006年06月15日
要約：

【課題】照射計画に従った照射部位の位置照合を支援するための照射位置照合システムの提供【解決手段】DRRとLGの画像を取り込み(S102)、サイズ調整(S104)、エッジ強調(S108)等を行い、アイソセンタのずれを補正して(S110)、DRRとLGのサイズや位置を合わせる。照合の妨げとなるLGのFOVエッジを除去する(S112)。その後、2値化して(S116)、LGの雑音処理後(S118)、照合対象のエッジをラベルにより選択して(S120,S122)、エッジを細線とする(S124)。DRRのエッジから作成したマスクにより、LGの照合対象であるランドマークを選択し(S126)、照合する探索範囲を決定して(S128)、照合を行う(S130)。照合した結果得られた照射位置のずれを表示する(S132)。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

放射線治療計画画像(DRR)と、治療前に撮影する照射野確認画像(LG)とを用いて、照射部位の位置を合わせるための照射位置照合システムであって、前記DRR及び照射野(FOV)形成のための形状データ、前記LGの画像を取得する画像取得手段と、取得した前記DRR及びLGの画像のサイズと位置を合わせる前処理手段と、前記DRRとLGの画像のエッジを強調するエッジ強調手段と、取得した前記形状データを用いて、LG内のFOVエッジを除去するFOVエッジ除去手段と、 DRRとLGの画像を2値化する2値化手段と、 2値化したDRRとLGの画像のエッジを細線化する細線化処理手段と、前記DRRとLGのずれを検出する照合手段と、照合した結果を表示する表示手段とを備えることを特徴とする照射位置照合システム。

IPC (1件)：

A61N 5/10

FI (1件)：

A61N5/10 M

Fターム (5件)：

4C082AA01 , 4C082AG22 , 4C082AJ08 , 4C082AJ13 , 4C082AN01

引用特許：

出願人引用 (4件)

X線治療装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-142249 出願人：三菱電機株式会社
画像収集中にX線イメ-ジングシステムのコリメ-タを自動設定する方法、およびX線イメ-ジングシステム
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-019953 出願人：シーメンスコーポレイトリサーチインコーポレイテツド
X線画像と基準画像の照合装置
公報種別：公表公報出願番号：特願平10-520700 出願人：ユニバーシティオブピッツバーグオブザコモンウェルスシステムオブハイヤーエデュケーション

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