特許
J-GLOBAL ID:200903044308040847

ダイオキシン類分析装置及びその方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 光石 俊郎 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-235098
公開番号(公開出願番号):特開2000-065814
出願日: 1998年08月21日
公開日(公表日): 2000年03月03日
要約:
【要約】【課題】 排ガス,排水,灰,土壌中等のダイオキシン類の濃度を簡易・迅速に測定することができるダイオキシン類の簡易分析装置及び分析方法を提供する。【解決手段】 分析対象物質からダイオキシン類を含む試料11を高圧で抽出する高圧抽出器12と、高圧抽出物から共存物質を分離させる多層カラムクロマトグラフィー13と、ダイオキシン類の同族体濃度を分析する低分解能ガスクロマトグラフィー質量分析装置14とを具備してなるものである。
請求項(抜粋):
分析対象物からダイオキシン類を含む試料を高圧で抽出する高圧抽出器と、高圧抽出物から共存物質を分離させる多層カラムクロマトグラフィーと、ダイオキシン類の同族体濃度を分析する低分解能ガスクロマトグラフィー質量分析装置とを具備してなることを特徴とするダイオキシン類分析装置。
IPC (4件):
G01N 30/88 ,  G01N 27/62 ZAB ,  G01N 30/46 ,  G01N 30/72
FI (4件):
G01N 30/88 C ,  G01N 27/62 ZAB C ,  G01N 30/46 A ,  G01N 30/72 A

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