特許
J-GLOBAL ID：200903044324377738
粒子分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-245774
公開番号（公開出願番号）：特開平9-089753
出願日： 1995年09月25日
公開日（公表日）： 1997年04月04日
要約：
【要約】【課題】温度変動による対物レンズの焦点ずれを補正し常にピントのあった画像を得る高信頼性の粒子分析装置を提供する。【解決手段】温度による各構造材の膨張収縮量の和が対物レンズ5の膨張量と打消し合うように各部の寸法・材質を決定することにより温度変動による対物レンズ5の焦点ずれを補正し常にピントのあった画像を得る粒子分析装置を提供することができる。
請求項（抜粋）：
フローセルにサンプルを供給し、前記フローセルにサンプル液の外層として流れるシース液を供給し、撮像用光学系でサンプル液中の粒子を撮像し、得られた画像を解析し粒子の分析をする粒子分析装置において、温度による焦点ずれを補正する対物レンズの光軸方向位置補正機構を設けたことを特徴とする粒子分析装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N 15/14 D
, G01N 15/14 C
, G01N 15/02 B
