特許
J-GLOBAL ID：200903044340801930
コンピュータ断層撮影装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊東 忠彦 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-532258
公開番号（公開出願番号）：特表2001-512359
出願日： 1998年12月14日
公開日（公表日）： 2001年08月21日
要約：
【要約】コンピュータ断層撮影装置は、X線ビームを発するX線源と、対象の断面の密度プロファイルを測定する検出器系とを含む。検出器系は、検出器素子の2次元マトリックスを含む。断面の横方向に沿って配置される検出器系は同じ有効表面を有し、断面に平行に配置される検出器素子は異なる有効表面を有する。更にコンピュータ断層撮影装置は、断面に対して横方向にX線ビームを制限する調整可能X線コリメータを含む。
請求項（抜粋）：
X線ビームを発するX線源と、 検査されるべき対象の断面の密度プロファイルをピックアップする検出器系と、 X線ビームを縦方向に空間的に制限するX線コリメータとを含むコンピュータ断層撮影装置であって、 上記検出器系は2次元パターンに配置された複数のX線感応検出器素子を含み、 断面に対して平行な横方向に沿って異なる位置にある検出器素子は略同じ有効断面を有し、 断面を横切る縦方向に沿って異なる位置にある少なくとも幾つかの検出器素子は異なる有効断面を有し、 横方向に沿って配置される検出器素子及び/又は検出器素子の部分を含む検出器群の略等しい表面は、制限されたX線ビームによって到達されうるコンピュータ断層撮影装置。
IPC (2件)：
A61B 6/03 321
, A61B 6/03 320
A61B 6/03 321 Q
, A61B 6/03 320 K
