特許
J-GLOBAL ID：200903044342369580
位相共役光を用いた光学距離の測定方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松本 昂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-228527
公開番号（公開出願番号）：特開平6-075049
出願日： 1992年08月27日
公開日（公表日）： 1994年03月18日
要約：
【要約】【目的】本発明は位相共役光を用いた光学距離の測定方法及び装置に関し、原理的には位相ゆらぎの影響を受けない高精度な測定を可能にすることを目的とする。【構成】一定周波数のプローブ光を第1地点で位相変調して得られた変調プローブ光を、第1地点から第2地点に向けて送出し(1)、第2地点で受けた変調プローブ光に基づき位相共役光を発生させ(2)、この位相共役光を第1地点でさらに位相変調し(3)、位相変調の変調指数を測定し(4)、変調指数に基づき第1地点と第2地点の間に設定された光路の光学距離を得る(5)。
請求項（抜粋）：
第1地点と第2地点の間に設定された光路の光学距離を測定する方法であって、一定周波数のプローブ光を上記第1地点で位相変調して得られた変調プローブ光を、上記光路により上記第1地点から上記第2地点に向けて送出する第1のステップ(1) と、上記第2地点で受けた変調プローブ光に基づき該変調プローブ光に対する位相共役光を発生させ、該位相共役光を上記光路により上記第2地点から上記第1地点に向けて送出する第2のステップ(2) と、該位相共役光を上記第1地点でさらに位相変調する第3のステップ(3) と、この位相変調された位相共役光を光検波して位相変調の変調指数を測定する第4のステップ(4) と、該変調指数に基づき上記光路の光学距離を得る第5のステップ(5) とを含むことを特徴とする光学距離の測定方法。
IPC (2件)：
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