特許

J-GLOBAL ID：200903044383213439

X線CT装置における較正ベクトルのサンプリング速度増減法

発明者： ネイル・バリー・ブロムベルグ ,  クラレンス・エル・ゴードン,ザ・サード
出願人/特許権者： ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー
代理人 (1件)： 松本 研一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-395792
公開番号（公開出願番号）：特開2002-320611
出願日： 2001年12月27日
公開日（公表日）： 2002年11月05日
要約：

【要約】【課題】 複数速度のサンプリング能力を持つX線断層撮影装置(10)用の多素子X線検出器(22)の時間のかかる較正を低減する。【解決手段】 空気スキャンを使用して、検出器素子(24)の感度の相互間のスカラー関係をサンプリング速度の関数として決定する。このスカラー関係はベクトルの形態で表され、このスカラー関係を適用することにより、基本スキャン速度における較正ベクトルを独立に求めて、様々なスキャン速度における有効な較正ベクトルを提供し、それらのサンプリング速度の各々における時間のかかる毎日の較正スキャンを行う必要性を無くす。

請求項（抜粋）：

X線コンピュータ断層撮影装置に使用される多素子X線検出器からの減弱信号を較正する方法であって、該減弱信号がX線源から測定容積を通過した後に受け取ったX線(20)の強さを表しており、且つ該減弱信号が異なるサンプリング速度でディジタル収集システムによってサンプリングされる場合において、(a)基本速度を含む複数の異なるサンプリング速度の各々に対して、上記多素子検出器(22)を使用して、上記測定容積内に撮影対象物体が無いときの信号の空気スキャン・データ・ベクトルを収集するステップと、(b)上記多素子検出器(22)を使用して、上記測定容積内に撮影対象物体が含まれているときの信号の断層撮影投影集合を所与のサンプリング速度で収集するステップと、(c)上記基本速度に対してカレントの空気スキャン・ベクトル(45)を収集するステップと、(d)上記所与のサンプリング速度に対する空気スキャン・ベクトルを、上記基本速度に対するカレントの空気スキャン・ベクトルによって修正するステップと、(e)上記所与のサンプリング速度に対する上記の修正した空気スキャン・ベクトルを上記断層撮影投影集合(42)に適用するステップと、を有し、上記基本速度に対する単一のカレントの空気スキャン・ベクトルを使用して、様々なサンプリング速度におけるカレントの空気スキャン・ベクトルを導き出すことができることを特徴とする、上記減弱信号を較正する方法。

IPC (3件)：

A61B 6/03 350 ,  G01T 1/29 ,  G01T 7/00

FI (3件)：

A61B 6/03 350 F ,  G01T 1/29 C ,  G01T 7/00 C

Fターム (12件)：

2G088EE02 ,  2G088FF02 ,  2G088LL15 ,  2G088LL26 ,  4C093AA22 ,  4C093CA36 ,  4C093EA02 ,  4C093FC12 ,  4C093FC16 ,  4C093FC17 ,  4C093FC19 ,  4C093FC23