特許
J-GLOBAL ID：200903044392559720
シート厚さ測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
上代 哲司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-161641
公開番号（公開出願番号）：特開平11-351856
出願日： 1998年06月10日
公開日（公表日）： 1999年12月24日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、レーザービームの正確な遮光幅を捕らえると共に、計測ローラの長手方向と回転角位置毎に計測ローラ表面の導電率や透磁率の変動及び雰囲気温度の変化に対応する変動要因を予め予知し総合的に補正して計測精度を向上させる手段を提案する。【解決手段】 被検査物のシート2を回転可能な計測ローラ1に密着させ、前記計測ローラ1の両側端にレーザ測定装置3を、上方に渦流式変位計8を配置し、前記レーザ測定装置3の投光器5側のレーザービーム7上に前記渦流式変位計8と一体に移動する遮光体9を設け、前記渦流式変位計8の先端と前記計測ローラ1表面の距離αから、前記渦流式変位計8の先端から伸びる前記遮光体9の先端までの距離γと前記レーザ測定装置3の受光器6側の受光幅βの合計を減算して前記シート厚さTを計測する。
請求項（抜粋）：
被検査物としての絶縁体から成るシートを回転可能な導電体から成る計測ローラに密着させ、前記計測ローラの両側端にレーザ測定装置を、上方に渦流式変位計を配置し、前記シート幅をよぎって水平方向に駆動される共通のフレームに前記レーザ測定装置と前記渦流式変位計は固定され、前記渦流式変位計の先端と前記計測ローラ表面の距離から、前記レーザ測定装置の受光器側の受光幅を減算して前記シート厚さを計測する装置において、前記レーザ測定装置の投光器側のレーザービーム上に前記渦流式変位計と一体に移動する遮光体を設け、前記渦流式変位計の先端と前記計測ローラ表面の距離から、前記渦流式変位計の先端から伸びる前記遮光体の先端までの距離と前記レーザ測定装置の受光器側の受光幅の合計を減算して前記シート厚さを計測する際、前記計測ローラ表面全域の導電性及び磁気的特性を、別途設ける演算装置に予め記憶させて補正することを特徴とするシート厚さ測定装置。
IPC (3件)：
G01B 21/08
, G01B 7/06
, G01B 11/06
G01B 21/08
, G01B 7/06 Z
, G01B 11/06 Z
