光学パネル検査方法、光学パネル検査装置、光学パネル検査プログラムおよびこのプログラムを記録した記録媒体

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：木下實三 , 中山寛二 , 石崎剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-071147
公開番号（公開出願番号）：特開2006-250876
出願日： 2005年03月14日
公開日（公表日）： 2006年09月21日
要約：

【課題】光学パネルによって表示される画像内に存在するスジ状欠陥を検出するとともにスジ状欠陥の状態に応じたランク判定を行う光学パネル検査方法を提供する。【解決手段】液晶ライトバルブによる表示画像に存在するスジ状欠陥を検出するスジ状欠陥検出工程(ST100)と、スジ状欠陥検出工程(ST100)にて検出されたスジ状欠陥同士で連続性を有するかを判定する連続性判定工程(ST200)と、連続性判定工程(ST200)にて連続性を有すると判定されたスジ状欠陥を一連のスジ状欠陥とみなすとともに検出されたスジ状欠陥の定量的評価値に基づいて液晶ライトバルブ112のランク判定を行うランク判定工程(ST300)と、を備える。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

光学パネルによって表示される画像内に存在するスジ状欠陥を検出するとともにスジ状欠陥の状態に応じたランク判定を行う光学パネル検査方法において、前記光学パネルによる表示画像を撮像した撮像画像に対してスジ状欠陥を検出するスジ状欠陥検出フィルタをかけてスジ状欠陥を検出するスジ状欠陥検出工程と、前記スジ状欠陥検出工程にて検出された各スジ状欠陥についてスジ状欠陥同士が連続性を有するかを判定する連続性判定工程と、前記連続性判定工程にて連続性を有すると判定されたスジ状欠陥を一連のスジ状欠陥とみなすとともに検出されたスジ状欠陥の定量的評価値に基づいて前記光学パネルのランク判定を行うランク判定工程と、を備えることを特徴とする光学パネル検査方法。

IPC (5件)：

G01M 11/00 , G01N 21/88 , G02F 1/13 , G06T 1/00 , G09F 9/00

FI (5件)：

G01M11/00 T , G01N21/88 Z , G02F1/13 101 , G06T1/00 300 , G09F9/00 352

Fターム (40件)：

2G051AA73 , 2G051AB02 , 2G051AB20 , 2G051BB09 , 2G051BB11 , 2G051CA04 , 2G051CB02 , 2G051DA13 , 2G051EA11 , 2G051EA12 , 2G051EB01 , 2G051EC01 , 2G051EC05 , 2G051ED07 , 2G051ED21 , 2G086EE10 , 2H088FA13 , 2H088FA30 , 2H088MA20 , 5B057AA01 , 5B057BA02 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CB08 , 5B057CB12 , 5B057CB16 , 5B057CC01 , 5B057CE06 , 5B057CE15 , 5B057CF01 , 5B057DA03 , 5B057DB02 , 5B057DB09 , 5B057DC03 , 5B057DC36 , 5G435AA19 , 5G435BB12 , 5G435KK05 , 5G435KK10

引用特許：

出願人引用 (1件)

LCDパネル検査における線ムラ検出方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-037274 出願人：三洋電機株式会社

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