特許

J-GLOBAL ID：200903044518908483

磁気ディスク用結晶化ガラス表面の欠陥検出方法

発明者： 後藤 直雪 ,  山口 勝彦 ,  川嶋 康之
出願人/特許権者： 株式会社オハラ
代理人 (1件)： 坂本 徹 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-050396
公開番号（公開出願番号）：特開平8-221747
出願日： 1995年02月15日
公開日（公表日）： 1996年08月30日
要約：

【要約】【目的】 表面の欠陥を容易に識別することができる磁気ディスク用結晶化ガラス表面の欠陥検出方法を提供する。【構成】 CIE の表色系でマンセル明度が0〜7の範囲の色視感を有するように、ガラス中の着色成分として、V2O5、CuUO、MnO2、Cr2O3、CoO、MoO3、NiO、Fe2O3、TeO2、CeO2、Pr2O3、Nd2O3、Er2O3からなる群より選択された少なくとも1成分を、重量百分率で、0.5〜5%含有させたSiO2-LiO2-RO(ただし、ROはMgO、ZnOまたはPbO)系の結晶化ガラスを目視または自動検査装置を用いて検査することにより表面の欠陥を検出する。

請求項（抜粋）：

重量百分率で、SiO2 65〜83%、Li2 O 8〜13%、K2 O 0〜7%、MgO 0.5〜5.5%、ZnO 0〜5%、PbO 0〜5%、ただし、MgO+ZnO+PbO 0.5〜5.5%、P2 O51〜4%、Al2 O3 0〜7%、As2 O3 +Sb2 O3 0〜2%、およびガラス中の着色成分として、V、Cu、Mn、Cr、Co、Mo、Ni、Fe、Te、Ce、Pr、Nd、Erの金属酸化物からなる群より選択された少なくとも1成分を、重量百分率で、0.5〜5%含有するガラスを熱処理することにより、CIEの表色系でマンセル明度が0〜7の範囲の色視感を有する着色結晶化ガラスを形成する工程と、目視または自動検査装置を用いることにより該着色結晶化ガラス表面の欠陥を検出する工程とを含むことを特徴とする磁気ディスク用結晶化ガラス表面の欠陥検出方法。

IPC (6件)：

G11B 5/84 ,  C03B 32/02 ,  C03C 10/04 ,  C03C 10/14 ,  G01N 21/88 ,  G11B 5/82

FI (6件)：

G11B 5/84 C ,  C03B 32/02 ,  C03C 10/04 ,  C03C 10/14 ,  G01N 21/88 G ,  G11B 5/82