特許
J-GLOBAL ID：200903044558743525
最適面取計画立案方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-117229
公開番号（公開出願番号）：特開平7-006184
出願日： 1993年05月19日
公開日（公表日）： 1995年01月10日
要約：
【要約】【目的】組合せの数が膨大であり、かつ、必ず最適な計画案が存在する最適面取計画問題を、確率的な探索手法により短時間で解決する、最適面取計画の立案方法および装置を提供する。【構成】入力部1、メモリ2、3、5、演算部4および出力部6を有して構成され、面材取り処理のための各種情報を入力し、与えられた条件に従って、最小化を図る項目を表す目的関数の値を最小化する、計画案を提供する。【効果】実用上許容される有限時間内に、最適面取計画問題において最小化したい評価項目である目的関数の値を最小にする計画案を導くことができ、また各種制約条件を満たし、素材の歩留まりの向上等を図ることができる。
請求項（抜粋）：
最適面取計画を設定するための目的関数を作成するために、与えられた最適面取計画対象の環境を表す環境変数、および、与えられた環境の中でとり得る面取順序を表す状態変数を入力する入力手段と、与えられた環境変数および状態変数から目的関数を作成する目的関数作成手段と、状態変数をxとし、目的関数F(x)の最小値を求める最小値探索手段と、最小値探索手段での探索結果を出力する出力手段を有する最適面取計画立案装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F 15/60 350 A
, G06F 15/31 Z
