欠陥画素修正装置及び欠陥画素修正方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：中島淳 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-185488
公開番号（公開出願番号）：特開平11-032218
出願日： 1997年07月10日
公開日（公表日）： 1999年02月02日
要約：

【要約】【課題】画像センサの歩留りを良くすると共に、塵、埃、傷等の外的要因に起因する欠陥画素の画像データを修正することができる欠陥画素修正装置及び欠陥画素修正方法を得る。【解決手段】暗電流補正部124及びシェーディング補正部128は、エリアCCDスキャナ12を構成するエリアCCDの画素毎の暗電流値及びシェーディングデータを各々測定し、測定された暗電流値及びシェーディングデータに基づいてエリアCCDの画素毎の欠陥画素を各々検出し、検出された欠陥画素の画像データを該欠陥画素の周辺画素の画像データに基づいて各々生成する。

請求項（抜粋）：

画像を複数画素に分割して読み取り画素毎に画像データを出力する画像センサの画素毎の暗電流値を測定して、暗電流値が所定値以上である画素を欠陥画素として検出し、該欠陥画素の画像データを該欠陥画素の周辺画素の画像データに基づいて生成する第1の欠陥画素補正手段と、前記画像センサの画素毎のシェーディングを補正するためのシェーディングデータを測定して、シェーディングデータが所定範囲外である画素を欠陥画素として検出し、該欠陥画素の画像データを該欠陥画素の周辺画素の画像データに基づいて生成する第2の欠陥画素補正手段と、を備えた欠陥画素修正装置。

IPC (3件)：

H04N 1/401 , H04N 1/40 , H04N 5/335

FI (3件)：

H04N 1/40 101 A , H04N 5/335 P , H04N 1/40 101 G

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