特許
J-GLOBAL ID：200903044658344059
反応容器の内表面位置推定方法、装置、及びコンピュータプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-317288
公開番号（公開出願番号）：特開2005-082862
出願日： 2003年09月09日
公開日（公表日）： 2005年03月31日
要約：
【課題】 非定常熱伝導方程式を用いた逆問題解析により温度や熱流束の非定常変化挙動を捉え、例えば高炉炉壁の残存厚みを推定するとともに、その際の計算を安定化させ、推定精度を向上させる。【解決手段】 ある時間ステップにおいて、高炉の内表面仮定位置及び外表面位置での熱流束の仮定値から非定常熱伝導方程式により各熱電対位置での温度を算出し、その算出された各熱電対位置での温度と、各熱電対で測定された温度とに基づいて、内表面仮定位置及び外表面位置での熱流束、更にその熱流束により与えられる温度を求める処理を、同一の時間ステップで上記反応容器の内表面仮定位置を複数回変更して行う。そして、各内表面仮定位置で求められた温度と、各固定長との対応関係を求めて、1150度(溶銑の凝固点温度)となる内表面仮定位置を内表面位置と推定し、高炉炉壁の残存厚みを推定する。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
温度変化反応を伴う反応容器の壁内部の少なくとも厚み方向に複数配置された温度測定点で測定される温度に基づいて、上記反応容器の内表面位置を推定する反応容器の内表面位置推定方法であって、
上記反応容器の内表面仮定位置及び外表面位置での温度或いは熱流束の仮定値から非定常熱伝導方程式により上記各温度測定点での温度或いは熱流束を算出し、その算出された各温度測定点での温度或いは熱流束と、上記各温度測定点で測定された温度とに基づいて、上記反応容器の内表面仮定位置及び外表面位置での温度或いは熱流束を求める処理を、同一の対象時間について上記反応容器の内表面仮定位置を変更して行うことを特徴とする反応容器の内表面位置推定方法。
IPC (4件)：
C21B7/24
, C21B7/02
, F27D21/00
, G01B21/00
C21B7/24 306
, C21B7/02
, F27D21/00 G
, F27D21/00 Q
, G01B21/00 A
2F069AA12
, 2F069BB40
, 2F069GG16
, 2F069KK03
, 2F069KK08
, 2F069NN15
, 4K015KA07
, 4K056AA01
, 4K056BB01
, 4K056CA02
, 4K056FA13
, 4K056FA19
