特許
J-GLOBAL ID：200903044676679793

光学的分析装置用測定チップ及びその製造方法

発明者：
中村 瑠奈

中村 瑠奈 について

, 
吉原 俊夫

吉原 俊夫 について

, 
永田 良平

永田 良平 について


出願人/特許権者：
大日本印刷株式会社

大日本印刷株式会社 について


代理人 (1件)： 平木 祐輔 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-323098
公開番号（公開出願番号）：特開平10-160737
出願日： 1996年12月03日
公開日（公表日）： 1998年06月19日
要約：
【要約】【解決手段】 官能基を表面に導入した金属コロイド粒子を、基板上に最密充填的に並べたことを特徴とする光学的分析装置用測定チップ、ならびに金属コロイド粒子を分散させた分散液と、3-アミノプロピルトリエトキシシラン、3-アミノプロピルトリメトキシシラン、3-アミノプロピルジエトキシメチルシラン、3-(2-アミノエチルアミノプロピル)トリメトキシシラン及び3-(2-アミノエチルアミノプロピル)ジメトキシメチルシランからなる群から選ばれる少なくとも1種とを混合して、金属コロイド粒子の表面にアミノ基を導入し、得られたアミノ基導入金属コロイド粒子分散液を溶媒と混合して又は混合しないで基板上に塗布することを特徴とする光学的分析装置用測定チップの製造方法。【効果】 良好な感度を有する光学的分析装置用測定チップを、効率良く簡易に得ることができる。
請求項（抜粋）：
官能基を表面に導入した金属コロイド粒子を、基板上に最密充填的に並べたことを特徴とする、光学的分析装置用測定チップ。
IPC (4件)：
G01N 33/553 ,  C12M 1/00 ,  C12Q 1/00 ,  G01N 33/543 595
FI (4件)：
G01N 33/553 ,  C12M 1/00 Z ,  C12Q 1/00 Z ,  G01N 33/543 595
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM