特許

J-GLOBAL ID：200903044706343345

投影面積を求める方法及び情報処理装置

発明者： 影浦 勝
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 大塚 康徳 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-261615
公開番号（公開出願番号）：特開2002-073697
出願日： 2000年08月30日
公開日（公表日）： 2002年03月12日
要約：

【要約】【課題】 簡単な処理で、専用のハードウェア等を用いずに、高速に投影面積を計算すること。【解決手段】 求める投影面積の精度を設定する工程(S1)と、前記精度に基づいて試行回数を設定する工程(S2)と、投影面を設定する工程(S3)と、物体の各面を前記投影面上に投影する工程(S4)と、前記投影された領域を全て含むように、所定形状の領域を設定する工程(S7)と、前記所定形状の領域に含まれる任意の点を発生する発生工程(S8)と、前記任意の点が前記投影領域のいずれかに含まれるか否かを判定する判定工程(S9〜S12)と、前記試行回数分、前記発生工程と判定工程とを繰り返させる工程(S16)と、前記投影領域に含まれる任意の点の数をカウントする工程(S13)と、前記所定形状の面積及び、前記カウントされた任意の点の数と前記試行回数との割合に基づいて、前記投影領域の面積を推定する工程(S17)とを有する。

請求項（抜粋）：

物体の投影面積を求める方法であって、求める投影面積の精度を設定する精度設定工程と、前記精度に基づいて、試行回数を設定する回数設定工程と、物体を投影する投影面を設定する投影面設定工程と、物体を構成する各面を前記投影面上に投影する投影工程と、前記投影された各面の投影領域を全て含むように、所定形状の領域を設定する所定領域設定工程と、前記所定形状の領域に含まれる任意の点を発生する発生工程と、前記任意の点が前記投影領域のいずれかに含まれるか否かを判定する判定工程と、前記試行回数分、前記発生工程と判定工程とを繰り返すさせる反復工程と、前記投影領域のいずれかに含まれる任意の点の数をカウントするカウント工程と、前記所定形状の面積及び、前記カウントされた任意の点の数と前記試行回数との割合に基づいて、前記投影領域の面積を推定する推定工程とを有することを特徴とする方法。

IPC (2件)：

G06F 17/50 608 ,  G05B 19/4097

FI (2件)：

G06F 17/50 608 Z ,  G05B 19/4097 C

Fターム (8件)：

5B046AA05 ,  5B046CA04 ,  5B046FA16 ,  5H269AB19 ,  5H269QC01 ,  5H269QC03 ,  5H269QC06 ,  5H269QD06