特許

J-GLOBAL ID：200903044787712064

照度測定用受光器および放射輝度計

発明者： 大久保 和明
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-035485
公開番号（公開出願番号）：特開平5-231931
出願日： 1992年02月24日
公開日（公表日）： 1993年09月07日
要約：

【要約】【目的】照明設備や照明環境の評価に必要な照度を測定するにおいてその受光部の斜め入射光特性を余弦則に合致させ、精度良い照度測定を実現すること、また同様に紫外や赤外の放射照度を測定するにおいてその受光部の斜め入射光特性を余弦則に合致させ、精度良い放射照度測定を実現することができるようにすることを目的とする。【構成】中央に開口を持つシリコンホトダイオード受光素子1と、前記受光素子1の受光面を覆い且つ、前記開口と同軸に配置した半球状のドーム2と、前記半球状のドーム2の内壁に塗布したPTFE拡散材料3からなり、前記受光素子1の開口部に入射する入射光照度を測定するように構成した照度測定用受光器。

請求項（抜粋）：

中央に開口を持つ受光素子と、前記受光素子の受光面を覆い且つ、前記開口と同軸に配置した半球状のドームと、前記半球状のドームの内壁に塗布した拡散材料からなり、前記受光素子の開口部に入射する入射光照度を測定するように構成した照度測定用受光器。